產(chǎn)品詳情

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S-1

InnovateT5型全譜直讀光譜儀采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù)，應(yīng)用了日本濱松公司的CMOS信號(hào)采集元件，每塊CMOS都可以單獨(dú)設(shè)值火花個(gè)數(shù)，與光譜儀一流技術(shù)同步，采用真空光室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對(duì)非金屬元素的極低檢出限，整機(jī)設(shè)計(jì)合理，操作簡(jiǎn)單易學(xué)，具有數(shù)據(jù)精準(zhǔn)，長(zhǎng)期穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。

undefined 鑄造冶金機(jī)械加工消防金屬加工金屬材料質(zhì)量鑒定新材料開發(fā) 其他

T5服務(wù)
CCD+CMOS全譜分析技術(shù)

全譜圖全譜譜線圖

豐富的譜線信息，分析靈敏線更多，保證分析的準(zhǔn)確度；

基于全譜測(cè)量的數(shù)據(jù)，能夠正確區(qū)分背景和譜線，有效提高測(cè)量精度；

智能選擇*合適的靈敏線，通過(guò)多譜線結(jié)合技術(shù)，實(shí)現(xiàn)低中高含量段的檢測(cè)需求；

基于全譜測(cè)量數(shù)據(jù)的多峰擬合技術(shù)，有效消除譜線干擾，實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量。

CMOS產(chǎn)品 undefined

CMOS線陣傳感器

獨(dú)創(chuàng)的實(shí)時(shí)智能漂移校正技術(shù)

在分析過(guò)程中實(shí)時(shí)進(jìn)行光譜漂移校正，增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性；

減少標(biāo)準(zhǔn)化校正次數(shù)，延長(zhǎng)校正周期；

自動(dòng)完成儀器校正，操作更加簡(jiǎn)便。

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譜線漂移校正

獨(dú)特的CMOS檢測(cè)技術(shù)優(yōu)于CCD

CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應(yīng)速度；

CMOS相比CCD具有更好的線性度；

CMOS相比CCD具有極高的紫外光敏感度，在深紫外區(qū)如碳、磷、硫、硼、砷、氮等短波元素的檢測(cè)更準(zhǔn)確。

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紫外元素強(qiáng)度對(duì)比

Innovate T5產(chǎn)品特點(diǎn)

國(guó)內(nèi)CMOS全譜接收技術(shù)；

人性化一鍵激發(fā)，一鍵緊急停止；
一體化光室光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)；
可編程脈沖全數(shù)字光源技術(shù)；
可分析Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Co等多種基體；
波長(zhǎng)范圍140-680nm，可滿足更多元素的分析要求。

可選型號(hào)

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鑄造、冶金行業(yè)來(lái)料檢驗(yàn)，爐前快速化驗(yàn)

Innovate T5是分析黑色金屬及有色金屬成份的快速定量分析儀器。本儀器廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械及其他工業(yè)部門，進(jìn)行冶煉爐前的在線分析以及中心實(shí)驗(yàn)室的產(chǎn)品檢驗(yàn)，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段。

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金屬加工、機(jī)械制造
近年來(lái)，隨著具有特殊機(jī)械性能和應(yīng)用的新型合金材料層出不窮的問(wèn)世，金屬加工和機(jī)械制造相關(guān)行業(yè)對(duì)于合金元素的含量配置要求越來(lái)越高，涉及黑色金屬合金及有色金屬合金，這就給過(guò)程加工控制提出了更高的要求，Innovate T5型全譜直讀光譜儀能對(duì)金屬材料中化學(xué)元素成份作精確檢測(cè)；可對(duì)鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基等廣泛元素作精確定量!

Innovate T5型全譜直讀光譜儀具有分析精度高，檢出限低，分析速度快，可以提供為相關(guān)企業(yè)提供牌號(hào)識(shí)別及元素檢測(cè)，產(chǎn)品質(zhì)量控制等，其行業(yè)覆蓋為：

1、各種金屬零件加工；

2、鈑金、箱體、金屬結(jié)構(gòu)；

3、鈦合金、高溫合金、非金屬等機(jī)械加工；

4、風(fēng)洞燃燒室設(shè)計(jì)制造；

5、非標(biāo)設(shè)備設(shè)計(jì)制造。

6、模具設(shè)計(jì)制造。

汽車零部件加工、材質(zhì)檢測(cè)
汽車零部件主要以灰鑄鐵、球墨鑄鐵、不銹鋼、鋁合金材質(zhì)為主，材料檢測(cè)數(shù)據(jù)必須滿足檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，隨著光譜技術(shù)的不斷成熟與精進(jìn)，在質(zhì)控過(guò)程中，已取代傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法，作為分析檢測(cè)的主流分析手段。

大專院校、科研
大專院校，科研機(jī)關(guān)對(duì)于新型金屬材料的課題研究同樣離不開光譜儀的幫助；杰博科技Innovate T5型全譜直讀光譜儀可為科研人員提供更高置信度的質(zhì)量保證/質(zhì)量控制(QA/QC)測(cè)試結(jié)果.科研人員能夠?qū)Ｗ⒂谔幚順悠? 儀器本身?yè)?dān)負(fù)起性能驗(yàn)證的職責(zé)，為提高實(shí)驗(yàn)室效率和簡(jiǎn)化需遵守常規(guī)要求的生產(chǎn)過(guò)程。

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